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场发射扫描电子显微镜(SEM)
信息来源:作者: 发布日期: 2016-06-02浏览次数:5050次
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技术指标:

加速电压:0.1kV-10kV
分辨率:1.0nm(15kV),1.4nm(1kV)
放大倍数:x1000-x200,000


应用领域:

应用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料、薄膜材料等微观形貌分析。

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